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电子元器件检测与使用速成, 薛文,华慧明编

ISBN:
7-5335-2594-9 价格: CNY15.80
语种:
chi
题名:
电子元器件检测与使用速成 dian zi yuan qi jian jian ce yu shi yong su cheng / 薛文,华慧明编 ,
出版发行:
出版地: 福州 出版社: 福建科学技术出版社 出版日期: 2005
载体形态:
251页 图 21cm
摘要:
本书介绍了各种常用电子元器件,特别是集成电路的识别、检测和使用的基本方法和技巧;主要介绍了如何使用一块经济、实用的万用表来粗略测试电子元器件的主要性能参数,并判断该元器件的好坏。
主题:
电子元件 检测
主题:
电子器件 检测
中图分类:
TN606 版次: 4
主要著者:
薛文 xue wen 编
主要著者:
华慧明 hua hui ming 编
索书号
TN606/1
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分享资源:
限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:
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