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国外测试新技术:晶体中缺陷的X射线貌相术观察, 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译

ISBN:
价格: CNY1.50
语种:
chi
题名:
国外测试新技术 guo wai ce shi xin ji shu / 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译 ,
出版发行:
出版地: 上海 出版社: 上海科学技术情报研究所 出版日期: 1974
载体形态:
191页 图表 26cm
附注内容:
非正式出版物
其它题名:
晶体中缺陷的X射线貌相术观察
主题:
半导体技术 测量 外国
中图分类:
TN3 版次: 4
团体著者:
中国科学院上海冶金研究所X射线实验室 zhong guo ke xue yuan shang hai ye jin yan jiu suo X she xian shi yan shi 译
索书号
TN3/11
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