名称: | |
描述: | |
公开/私有: | 公开 私有 |
国外测试新技术:晶体中缺陷的X射线貌相术观察, 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译 |
|
ISBN:
|
价格: CNY1.50 |
语种:
|
chi |
题名:
|
国外测试新技术 guo wai ce shi xin ji shu / 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译 , |
出版发行:
|
出版地: 上海 出版社: 上海科学技术情报研究所 出版日期: 1974 |
载体形态:
|
191页 图表 26cm |
附注内容:
|
非正式出版物 |
其它题名:
|
晶体中缺陷的X射线貌相术观察 |
主题:
|
半导体技术 测量 外国 |
中图分类:
|
TN3 版次: 4 |
团体著者:
|
中国科学院上海冶金研究所X射线实验室 zhong guo ke xue yuan shang hai ye jin yan jiu suo X she xian shi yan shi 译 |
索书号
|
TN3/11 |
标签:
|
相关主题:
|
相关资源:
|
|
分享资源:
|
HEA| |01057nam0 2200265 45 000| |25508 001| |012001014449 005| |20091026162327.5 010| |□dCNY1.50 091| |□a151634.211 100| |□a20091026d1974 em y0chiy0110 ea 101|0 |□achi 102| |□aCN□b310000 105| |□aa z 000yy 106| |□ar 200|1 |□a国外测试新技术□e晶体中缺陷的X射线貌相术观察□f中国科- | |学院上海冶金研究所X射线实验室译□9guo wai ce s- | |hi xin ji shu 210| |□a上海□c上海科学技术情报研究所□d1974 215| |□a191页□c图表□d26cm 300| |□a非正式出版物 517|1 |□a晶体中缺陷的X射线貌相术观察□9jing ti zhon- | |g que xian de xshe xian mao xi- | |ang shu guan cha 606|0 |□a半导体技术□x测量□y外国□9ban dao ti ji shu 690| |□aTN3□v4 711|02|□a中国科学院上海冶金研究所X射线实验室□4译□9zhong- | | guo ke xue yuan shang hai ye - | |jin yan jiu suo X she xian shi yan shi 801| 0|□aCN□b永安市图书馆 905| |□a永安市图书馆□fTN3/11□s1□kZ□b0041876□t19861