| 名称: | |
| 描述: | |
| 公开/私有: | 公开 私有 |
标签:
用空格间隔多个标签,如:小说 文学 余秋雨
保存至书单:
半导体测试技术, 孙以材编著 |
|
|
ISBN:
|
价格： ￥4.85 |
|
语种:
|
chi |
|
题名:
|
半导体测试技术 / 孙以材编著 , |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 冶金工业出版社 出版日期： 1984 |
|
载体形态:
|
499页 25cm |
|
主题:
|
半导体材料-测试技术 |
|
主题:
|
测试技术-半导体材料 |
|
中图分类:
|
TN304.07 版次： 3 |
|
主要著者:
|
孙以材 编著 |
|
索书号
|
TN304.07/4 |
|
标签:
|
相关主题:
|
|
相关资源:
|
|
|
分享资源:
|
|
限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01018nam0 2200265 45 001| |0149174526 005| |1920010623134436 010| |□d￥4.85 091| |□aCN□b15062.4019 100| |□a20010623d1984 em y0chiy0121 ea 101|0 |□achi 102| |□aCN□b110000 105| |□ay z 000yy 106| |□ar 200|10|□a半导体测试技术□Aban dao ti ce shi j- | |i shu□f孙以材编著 210| |□a北京□c冶金工业出版社□d1984 215| |□a499页□d25cm 606| |□a半导体材料-测试技术 606| |□a测试技术-半导体材料 690| |□aTN304.07□v3 701| 0|□a孙以材□Asun yi cai□4编著 801| 2|□aCN□bMT 905| |□aMT□fTN304.07/4□b0202880□t123- | |4200□kwe□b0382169□t1234202□kj□- | |b0665964□t1234201□kj 908| |□a0202880□b464069□cMT□d0□e2□fT- | |N304.07/4□gMT□hyt□i□j4.85□k□l- | |1□m□n□o平装□p1234200□q2002-06-10- | |□r4.85□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□aM0202880□b1900065817□cMT□d□e- | |2□fTN304.07/4□gMT□hyt□i□j4.85- | |□k□l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□- | |t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt