标签: 用空格间隔多个标签,如:小说文学余秋雨

电子产品可靠性试验, 卢昆祥编著
ISBN:	7-5308-0195-3 价格：￥4.20
语种:	chi
题名:	电子产品可靠性试验 / 卢昆祥编著 ,
出版发行:	出版地：天津出版社：天津科学技术出版社出版日期： 1987
载体形态:	304页 25cm
摘要:	本书是电子产品可靠性试验的中级读物。内容包括电子元器件和可靠性试验和电子设备可靠性试验两大部分。
主题:	电子产品可靠性试验
中图分类:	TN06 版次： 1980
科图分类:	73.617 版次： 1974
主要著者:	卢昆祥编著
索书号	TN06/27
标签:	没有标签
随书附盘：
相关主题:	电子技术性能价格比双稳态透湿性性能衰降无线电技术测试技术测试装置通信技术更多...
相关资源:
分享资源:	分享到... 新浪微博豆瓣腾讯微博 Qzone

馆藏信息
预订信息
虚拟书架
marc信息
豆瓣书评
图书目录
试读信息
内容简介
著者简介

限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:

HEA|  |01165nam0 2200277   45  
001|  |0149174073
005|  |1920010529145427
010|  |□a7-5308-0195-3□d￥4.20
091|  |□aCN□b15212.233
100|  |□a20010529d1987    emky0chiy0121    ea
101|0 |□achi
102|  |□aCN□b120000
105|  |□ay   z   000yy
106|  |□ar
200|10|□a电子产品可靠性试验□f卢昆祥编著□Adian zi ch-
   |  |an pin ke kao xing shi yan
210|  |□a天津□c天津科学技术出版社□d1987
215|  |□a304页□d25cm
330|  |□a本书是电子产品可靠性试验的中级读物。内容包括电子元器件和-
   |  |可靠性试验和电子设备可靠性试验两大部分。
606|  |□a电子产品可靠性□x试验
690|  |□aTN06□v1980
692|  |□a73.617□v1974
701| 0|□a卢昆祥□4编著□Alu kun xiang
801| 2|□aCN□bMT
905|  |□aMT□fTN06/27□b0221042□t162853-
   |  |2□kwe□b0663854□t1628533□kj
908|  |□a0221042□b112434□cMT□d0□e2□fT-
   |  |N06/27□gMT□hyt□i□j4.2□k□l1□m□-
   |  |n0□o平装□p0□q1990-01-01□r4.2□t□u-
   |  |□v999_CN01□w1990-01-01□y订购□zyt
908|  |□aM0221042□b1900025340□cMT□d□e-
   |  |2□fTN06/27□gMT□hyt□i□j4.2□k□l-
   |  |1□m□n□o平装□p□q1990-01-01□r□t□u□-
   |  |v999_CN01□w1990-01-01□y□zyt

名称:
描述:
公开/私有:	公开私有

电子产品可靠性试验, 卢昆祥编著