名称: | |
描述: | |
公开/私有: | 公开 私有 |
存储测试系统的设计理论及其应用, 张文栋[著] |
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ISBN:
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7-04-010432-6 价格: CNY18.90 |
语种:
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chi |
题名:
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存储测试系统的设计理论及其应用 cun chu ce shi xi tong de she ji li lun ji qi ying yong / 张文栋[著] , |
出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 高等教育出版社 出版日期: 2002 |
载体形态:
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172页 彩照 23cm |
责任者附注:
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张文栋(1962~),河南人,工学博士学位,清华大学博士后,现任华北工学院院长、教授、博士生导师,著有《存储测试系统的设计理论及其应用》。 |
摘要:
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本书系统的研究了存储测试系统及其设计理论,提出了存储测试系统包括的基本要素,在综合分析研究多种存储测试系统设计规律基础上,提出了存储测试系统宏观设计原理和系统状态设计理论。 |
主题:
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信息存储 自动检测系统 |
主题:
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信息存储 |
主题:
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自动检测系统 |
中图分类:
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TP274 版次: 4 |
主要著者:
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张文栋 zhang wen dong 著 |
索书号
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TP274/85 |
标签:
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分享资源:
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