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硅中缺陷与器件质量:半导体材料学进展译文集, 王儒全等译

ISBN:
价格: ¥1.20
语种:
chi
题名:
硅中缺陷与器件质量 / 王儒全等译 ,
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 轻工业出版社 出版日期: 1980
载体形态:
180页 25cm
其它题名:
半导体材料学进展译文集
主题:
硅中缺陷
中图分类:
TN304 版次: 3
主要著者:
王儒全
索书号
TN304/1
标签:
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限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:
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   |  |liao xue jin zhan yi wen ji
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