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硅中缺陷与器件质量:半导体材料学进展译文集, 王儒全等译
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ISBN:
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价格:
¥1.20
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语种:
|
chi
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题名:
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硅中缺陷与器件质量
/
王儒全等译
,
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出版发行:
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出版地:
北京
出版社:
轻工业出版社
出版日期:
1980
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载体形态:
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180页
25cm
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其它题名:
|
半导体材料学进展译文集
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主题:
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硅中缺陷
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中图分类:
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TN304
版次:
3
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主要著者:
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王儒全
译
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索书号
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TN304/1
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标签:
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随书附盘:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
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