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X射线衍射形貌术, (英)坦 纳(Tanner,B.K.)著 |
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ISBN:
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价格： ￥1.75 |
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语种:
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chi |
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题名:
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X射线衍射形貌术 [ YW] / (英)坦 纳(Tanner,B.K.)著 , 赵庆兰译 |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 1985.3 |
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载体形态:
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228页 19厘米 |
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附注内容:
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书名原文: X-Ray diffraction topography. |
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摘要:
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介绍Ｘ射线衍射理论动力学基础, 阐述各有关的实验技术, 解释和分析形貌图的基本程序和方法, 以及形貌术在晶体品质鉴定工作中取得的主要成果。 |
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其它题名:
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X-Ray diffraction topography |
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主题:
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Ｘ射线衍射形貌术 |
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中图分类:
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O72 版次： 3 |
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主要著者:
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坦纳 著 |
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次要著者:
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赵庆兰 译 |
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索书号
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O72/3 |
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标签:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01253nam0 2200277 45 001| |0192007373 010| |□d￥1.75 091| |□aCN□b13031.2852 100| |□a19940806d1985 k y0chiy0121 ea 101|1 |□achi□ceng 105| |□ay z 001yy 106| |□ar 200|10|□aX射线衍射形貌术□bYW□f(英)坦 纳(Tanner- | |,B.K.)著□g赵庆兰译 210| |□a北京□c科学出版社□d1985.3 215| |□a228页□d19厘米 300| |□a书名原文: X-Ray diffraction topography. 330| |□a介绍Ｘ射线衍射理论动力学基础, 阐述各有关的实验技术, - | |解释和分析形貌图的基本程序和方法, 以及形貌术在晶体品质鉴定- | |工作中取得的主要成果。 517|10|□aX-Ray diffraction topography 606| 0|□aＸ射线衍射形貌术 690| |□aO72□v3 701| 1|□a坦纳□bB.K.□dTanner□e英□4著 702| 0|□a赵庆兰□4译 801| 0|□aCN 905| |□aMT□fO72/3□s3□kw□b0028300□t12- | |71701□kj□b0023053□t1271703□kj□- | |b0023052□t1271702 908| |□a0028300□b147081□cMT□d0□e2□fO- | |72/3□gMT□hyt□i□j1.75□k□l1□m□n- | |0□o平装□p1271701□q1990-01-01□r1.- | |75□t□u□v999_CN01□w1990-01-01□y订购□zyt 908| |□aM0028300□b1900099013□cMT□d□e- | |2□fO72/3□gMT□hyt□i□j1.75□k□l1- | |□m□n□o平装□p□q1990-01-01□r□t□u□v- | |999_CN01□w1990-01-01□y□zyt