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高频、微波半导体器件的计量测试, 曹余录等编著
ISBN:	7-5026-0562-2 价格：￥4.20
语种:	chi
题名:	高频、微波半导体器件的计量测试 / 曹余录等编著 ,
出版发行:	出版地：北京出版社：中国计量出版社出版日期： 1992.12
载体形态:	162页 19cm
摘要:	内容包括晶体管直流参数计量测试，高频、微波功率晶体管功率增益和输出功率计量测试等7章。
主题:	半导体器件计量
主题:	半导体器件测试
中图分类:	TN307 版次： 3
主要著者:	曹余录编著
索书号	TN307/5
标签:	没有标签
随书附盘：
相关主题:	半导体技术测量
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高频、微波半导体器件的计量测试, 曹余录等编著