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分析晶体缺陷的电子显微术, (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 |
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ISBN:
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价格： ￥0.46 |
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语种:
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chi |
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题名:
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分析晶体缺陷的电子显微术 / (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著 , 康振川,王桂金译 |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术出版社 出版日期： 1979 |
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载体形态:
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111页 20cm |
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主题:
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晶体缺陷-分析-电子显微术 |
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主题:
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电子显微术-晶体缺陷-分析 |
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中图分类:
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O77 版次： 3 |
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主要著者:
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洛雷托 著 |
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主要著者:
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斯莫尔曼 著 |
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次要著者:
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康振川 译 |
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次要著者:
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王桂金 译 |
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索书号
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O77/1 |
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标签:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01599nam0 2200337 45 001| |0149081336 005| |1920020114121334 010| |□d￥0.46 091| |□aCN□b15119.2028 100| |□a20020114d1979 em y0chiy0121 ea 101|1 |□achi□ceng 102| |□aCN□b310000 105| |□ay z 000yy 106| |□ar 200|10|□a分析晶体缺陷的电子显微术□Afen xi jing ti- | | que xian de dian zi xian wei - | |shu□f(美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著□g康振川,王桂金译 210| |□a上海□c上海科学技术出版社□d1979 215| |□a111页□d20cm 606| |□a晶体缺陷-分析-电子显微术 606| |□a电子显微术-晶体缺陷-分析 690| |□aO77□v3 701| 1|□a洛雷托□Aluo lei tuo□4著 701| 1|□a斯莫尔曼□Asi mo er man□4著 702| 0|□a康振川□Akang zhen chuan□4译 702| 0|□a王桂金□Awang gui jin□4译 801| 2|□aCN□bMT 801| 2|□aCN□bMT 905| |□aMT□fO77/1□b0211713□t847848□k- | |we□b0211714□t847847□kwe□b04947- | |68□t847856□kj□b0494776□t847854- | |□kj□b0494927□t847855□kj□b05159- | |89□t847852□kj 908| |□a0211713□b384502□cMT□d0□e2□fO- | |77/1□gMT□hyt□i□j0.46□k□l1□m□n- | |□o平装□p847848□q2002-06-06□r0.46- | |□t□u□v999_CN01□w2002-06-06□y订购□zyt 908| |□a0211714□b384502□cMT□d0□e2□fO- | |77/1□gMT□hyt□i□j0.46□k□l1□m□n- | |0□o平装□p0□q2000-05-09□r0.0□t□u□- | |v999_CN01□w2000-05-09□y订购□zyt 908| |□aM0211713□b1900080036□cMT□d□e- | |2□fO77/1□gMT□hyt□i□j.46□k□l1□- | |m□n□o平装□p□q2002-06-06□r□t□u□v9- | |99_CN01□w2002-06-06□y□zyt 908| |□aM0211714□b1900080036□cMT□d□e- | |2□fO77/1□gMT□hyt□i□j.46□k□l1□- | |m□n□o平装□p□q2000-05-09□r□t□u□v9- | |99_CN01□w2000-05-09□y□zyt