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半导体测量和仪器, (美)鲁尼安(W.R.Runyan)编著 |
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ISBN:
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价格： ￥1.15 |
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语种:
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chi |
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题名:
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半导体测量和仪器 / (美)鲁尼安(W.R.Runyan)编著 , 上海科技大学半导体材料教研室译 |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术出版社 出版日期： 1980 |
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载体形态:
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322页 20cm |
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附注内容:
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书后附有大量的参考书目 |
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附注内容:
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书名原文:Semiconductor measurements and instrumentation |
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主题:
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半导体材料 测试 |
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主题:
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半导体器件 测试 |
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中图分类:
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TN307 版次： 3 |
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主要著者:
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鲁尼安 编著 |
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主要著者:
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Runyan 编著 |
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团体著者:
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上海科技大学半导体材料教研室 译 |
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索书号
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TN307/3 |
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标签:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01789nam0 2200361 45 001| |0149174593 005| |1920010625083627 010| |□d￥1.15 091| |□aCN□b15119.2034 100| |□a20010625d1980 em y0chiy0121 ea 101|1 |□achi□ceng 102| |□aCN□b310000 105| |□ay az 000yy 106| |□ar 200|10|□a半导体测量和仪器□Aban dao ti ce lian- | |g he yi qi□f(美)鲁尼安(W.R.Runyan)- | |编著□g上海科技大学半导体材料教研室译 210| |□a上海□c上海科学技术出版社□d1980 215| |□a322页□d20cm 300| |□a书后附有大量的参考书目 300| |□a书名原文:Semiconductor measureme- | |nts and instrumentation 510|1 |□aSemiconductor measurements a- | |nd instrumentation□zeng 606| |□a半导体材料□x测试 606| |□a半导体器件□x测试 690| |□aTN307□v3 701| 1|□a鲁尼安□Alu ni an□bW.R.□4编著 701|A1|□aRunyan□bW.R.□4编著□ARunyan 712|02|□a上海科技大学半导体材料教研室□4译□Ashang hai- | | ke ji da xue ban dao ti cai l- | |iao jiao yan shi 801| 0|□aCN□bNLC 801| 2|□aCN□bMT 905| |□aMT□fTN307/3□b0182275□t885828- | |□kwe□b0182280□t885831□kwe□b028- | |5584□t885827□kj□b0677457□t8858- | |26□kj□b0677497□t885825□kj 908| |□a0182275□b464124□cMT□d0□e2□fT- | |N307/3□gMT□hyt□i□j1.15□k□l1□m- | |□n□o平装□p885828□q2002-06-10□r1.- | |15□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□a0182280□b464124□cMT□d0□e2□fT- | |N307/3□gMT□hyt□i□j1.15□k□l1□m- | |□n□o平装□p885831□q2002-06-10□r1.- | |15□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□aM0182275□b1900023146□cMT□d□e- | |2□fTN307/3□gMT□hyt□i□j1.15□k□- | |l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u- | |□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt 908| |□aM0182280□b1900023146□cMT□d□e- | |2□fTN307/3□gMT□hyt□i□j1.15□k□- | |l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u- | |□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt