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标签:
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半导体器件可靠性与失效分析, 卢其庆,张安康编 |
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ISBN:
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价格： ￥1.70 |
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语种:
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chi |
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题名:
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半导体器件可靠性与失效分析 / 卢其庆,张安康编 , |
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出版发行:
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出版地： 南京 出版社： 江苏科学技术出版社 出版日期： 1981 |
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载体形态:
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278页 25cm |
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附注内容:
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高等学校试用教材 |
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主题:
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半导体器件-可靠性 分析 |
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主题:
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可靠性-半导体器件 分析 |
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主题:
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半导体器件-失效分析 |
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主题:
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失效分析-半导体器件 |
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中图分类:
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TN306 版次： 3 |
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主要著者:
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卢其庆 编 |
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主要著者:
|
张安康 编 |
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索书号
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TN306/3 |
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标签:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01606nam0 2200361 45 001| |0149174588 005| |1920010623165406 010| |□d￥1.70 091| |□aCN□b15196.054 100| |□a20010623d1981 em y0chiy0121 ea 101|0 |□achi 102| |□aCN□b320000 105| |□ay z 000yy 106| |□ar 200|10|□a半导体器件可靠性与失效分析□Aban dao ti qi- | | jian ke kao xing yu shi xiao - | |fen xi□f卢其庆,张安康编 210| |□a南京□c江苏科学技术出版社□d1981 215| |□a278页□d25cm 300| |□a高等学校试用教材 606| |□a半导体器件-可靠性□x分析 606| |□a可靠性-半导体器件□x分析 606| |□a半导体器件-失效分析 606| |□a失效分析-半导体器件 690| |□aTN306□v3 701| 0|□a卢其庆□Alu qi qing□4编 701| 0|□a张安康□Azhang an kang□4编 801| 0|□aCN□b上海图书馆 801| 2|□aCN□bNLC 801| 2|□aCN□bMT 905| |□aMT□fTN306/3□b0182263□t128222- | |6□kwe□b0182268□t1282228□kwe□b0- | |363163□t971244□kj□b0677541□t971245□kj 908| |□a0182263□b464121□cMT□d0□e2□fT- | |N306/3□gMT□hyt□i□j1.7□k□l1□m□- | |n□o平装□p1282226□q2002-06-10□r1.- | |7□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□a0182268□b464121□cMT□d0□e2□fT- | |N306/3□gMT□hyt□i□j1.7□k□l1□m□- | |n□o平装□p1282228□q2002-06-10□r1.- | |7□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□aM0182263□b1900009341□cMT□d□e- | |2□fTN306/3□gMT□hyt□i□j1.7□k□l- | |1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u□- | |v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt 908| |□aM0182268□b1900009341□cMT□d□e- | |2□fTN306/3□gMT□hyt□i□j1.7□k□l- | |1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u□- | |v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt