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标签:
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半导体器件的可靠性．第二集, 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 |
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ISBN:
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价格： ￥0.49 |
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语种:
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chi |
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题名:
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半导体器件的可靠性 / 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 , |
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出版发行:
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出版地： 重庆 出版社： 科学技术文献出版社重庆分社 出版日期： 1976 |
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载体形态:
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68页 26cm |
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主题:
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半导体技术-可靠性试验 文集 |
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主题:
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可靠性试验-半导体技术 文集 |
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中图分类:
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TN306 版次： |
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中图分类:
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TN306-53 版次： 3 |
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团体著者:
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中国科学技术情报研究所重庆分所 编辑 |
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索书号
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TN306/1/2 |
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标签:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01600nam0 2200325 45 001| |0149174584 005| |1920010623164637 010| |□d￥0.49 091| |□aCN□b15176.116 100| |□a20010623d1976 em y0chiy0121 ea 101|0 |□achi 102| |□aCN□b500000 105| |□ay z 000yy 106| |□ar 200|10|□a半导体器件的可靠性□Aban dao ti qi jia- | |n de ke kao xing□h第二集□f中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 210| |□a重庆□c科学技术文献出版社重庆分社□d1976 215| |□a68页□d26cm 606| |□a半导体技术-可靠性试验□x文集 606| |□a可靠性试验-半导体技术□x文集 690| |□aTN306 690| |□aTN306-53□v3 711|02|□a中国科学技术情报研究所重庆分所□Azhong guo k- | |e xue ji shu qing bao yan jiu - | |suo chong qing fen suo□4编辑 801| 0|□aCN□b广东省中山图书馆 801| 2|□aCN□bNLC 801| 2|□aCN□bMT 905| |□aMT□fTN306/1/2□b0182255□t6982- | |43□kwe□b0182262□t698242□kwe□b0- | |677453□t698241□kj□b0677493□t698240□kj 908| |□a0182255□b464117□cMT□d0□e2□fT- | |N306/1/2□gMT□hyt□i□j0.49□k□l1- | |□m□n□o平装□p698243□q2002-06-10□r- | |0.49□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□a0182262□b464117□cMT□d0□e2□fT- | |N306/1/2□gMT□hyt□i□j0.49□k□l1- | |□m□n□o平装□p698242□q2002-06-10□r- | |0.49□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□aM0182255□b1900051043□cMT□d□e- | |2□fTN306/1/2□gMT□hyt□i□j.49□k- | |□l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□- | |u□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt 908| |□aM0182262□b1900051043□cMT□d□e- | |2□fTN306/1/2□gMT□hyt□i□j.49□k- | |□l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□- | |u□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt