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形位公差与技术测量, 杨恩烈,余锴坚编著

ISBN:
价格: ¥1.95
语种:
chi
题名:
形位公差与技术测量 / 杨恩烈,余锴坚编著 ,
出版发行:
出版地: 沈阳 出版社: 辽宁人民出版社 出版日期: 1981
载体形态:
284页 25cm
主题:
形位公差
主题:
技术测量
中图分类:
TG8 版次:
中图分类:
TG801 版次: 3
主要著者:
杨恩烈 编著
主要著者:
余锴坚 编著
索书号
TG8/41
标签:
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