限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |00982nam0 2200265 45
001| |0191009534
005| |1920011217153648
010| |□a7-302-00435-8□d¥3.65
100| |□a20010704d1989 em y0chiy0121 eb
101|0 |□achi
102| |□aCN□b110000
105| |□ay z 000yy
106| |□ar
200|10|□a电路测试技术与仪器□f朱锡仁编著□Adian lu ce-
| | shi ji shu yu yi qi
210| |□a北京□c清华大学出版社□d1989.8
215| |□a282页□d26cm
606|0 |□a电子电路□x测试技术
606|0 |□a电子电路□x测试装置
690| |□aTN707
690| |□aTM93□v1980
701| 0|□a朱锡仁□4编著□Azhu xi ren
801| 2|□aCN□bMT
905| |□aMT□fTN707/1□b0671340□t1597498□kj
908| |□a0079253□b123873□cMT□d0□e2□fT-
| |N707/1□gMT□hyt□i□j3.65□k□l1□m-
| |□n0□o平装□p1597499□q1990-01-01□r-
| |3.65□t□u□v999_CN01□w1990-01-01□y订购□zyt
908| |□aM0079253□b1900003749□cMT□d□e-
| |2□fTN707/1□gMT□hyt□i□j3.65□k□-
| |l1□m□n□o平装□p□q1990-01-01□r□t□u-
| |□v999_CN01□w1990-01-01□y□zyt