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仪器仪表可靠性设计, 邹桂根主编

ISBN:
7-313-00261-0 价格: ¥4.05
语种:
chi
题名:
仪器仪表可靠性设计 / 邹桂根主编 ,
出版发行:
出版地: 上海 出版社: 上海交通大学出版社 出版日期: 1990.3
载体形态:
321页 26cm
摘要:
本书介绍了机、电两大学科领域可靠性工程中的理论要点、可靠性特性征量、失效分布类型及其特性、叙述了仪器零件和电子元器件的可靠性。
主题:
仪器-可靠性-设计
主题:
可靠性-设计-仪器
中图分类:
TH702 版次: 三版
主要著者:
邹桂根 主编
索书号
TH702/5
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限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:
HEA|  |01172nam0 2200265   45  
001|  |0191008045
005|  |1920010907104408
010|  |□a7-313-00261-0□d¥4.05
100|  |□a20010907d1990    em y0chiy0121    ea
101|0 |□achi
102|  |□aCN□b310000
105|  |□ay   z   000yy
106|  |□ar
200|10|□a仪器仪表可靠性设计□f邹桂根主编□Ayi qi yi b-
   |  |iao ke kao xing she ji
210|  |□a上海□c上海交通大学出版社□d1990.3
215|  |□a321页□d26cm
330|  |□a本书介绍了机、电两大学科领域可靠性工程中的理论要点、可靠-
   |  |性特性征量、失效分布类型及其特性、叙述了仪器零件和电子元器件-
   |  |的可靠性。
606|  |□a仪器-可靠性-设计
606|  |□a可靠性-设计-仪器
690|  |□aTH702□v三版
701| 0|□a邹桂根□4主编□Azou gui gen
801| 2|□aCN□bMT
905|  |□aMT□fTH702/5□b0404518□t1608238□kj
908|  |□a0081596□b134909□cMT□d0□e2□fT-
   |  |H702/5□gMT□hyt□i□j4.05□k□l1□m-
   |  |□n0□o平装□p1608237□q1990-01-01□r-
   |  |4.05□t□u□v999_CN01□w1990-01-01□y订购□zyt
908|  |□aM0081596□b1900003920□cMT□d□e-
   |  |2□fTH702/5□gMT□hyt□i□j4.05□k□-
   |  |l1□m□n□o平装□p□q1990-01-01□r□t□u-
   |  |□v999_CN01□w1990-01-01□y□zyt