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半导体器件可靠性物理, 高光渤, 李学信编著 |
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ISBN:
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价格： ￥4.65 |
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语种:
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chi |
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题名:
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半导体器件可靠性物理 / 高光渤, 李学信编著 , |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 1987.11 |
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载体形态:
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601页 20cm |
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摘要:
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阐述了发生在半导体器件内部的、导致器件失放的各种物理及化学效应, 即失效机理。 |
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主题:
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半导体器件 |
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中图分类:
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TN306 版次： 3 |
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主要著者:
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高光渤 编著 |
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主要著者:
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李学信 编著 |
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索书号
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TN306/5 |
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标签:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
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