名称: | |
描述: | |
公开/私有: | 公开 私有 |
抗辐射电子学:辐射效应及加固原理, 赖祖武主编 |
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ISBN:
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7-118-01866-X 价格: ¥18 |
语种:
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chi |
题名:
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抗辐射电子学 / 赖祖武主编 , |
出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 国防工业出版社 出版日期: 1998 |
载体形态:
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25,363页 20cm |
附注内容:
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国防科技图书出版基金资助出版 |
其它题名:
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辐射效应及加固原理 |
主题:
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抗辐射性-半导体电子学 |
主题:
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半导体电子学-抗辐射性 |
主题:
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半导体器件-辐射效应 |
主题:
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辐射效应-半导体器件 |
中图分类:
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TN322 版次: 3 |
中图分类:
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TN43 版次: 3 |
科图分类:
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73.73244 版次: 2 |
主要著者:
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赖祖武 主编 |
索书号
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TN322/18 |
标签:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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