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抗辐射电子学:辐射效应及加固原理, 赖祖武主编

ISBN:
7-118-01866-X 价格: ¥18
语种:
chi
题名:
抗辐射电子学 / 赖祖武主编 ,
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 国防工业出版社 出版日期: 1998
载体形态:
25,363页 20cm
附注内容:
国防科技图书出版基金资助出版
其它题名:
辐射效应及加固原理
主题:
抗辐射性-半导体电子学
主题:
半导体电子学-抗辐射性
主题:
半导体器件-辐射效应
主题:
辐射效应-半导体器件
中图分类:
TN322 版次: 3
中图分类:
TN43 版次: 3
科图分类:
73.73244 版次: 2
主要著者:
赖祖武 主编
索书号
TN322/18
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限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:
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