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标签:
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半导体器件的可靠性．专集, 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 |
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ISBN:
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价格： ￥1.05 |
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语种:
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chi |
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题名:
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半导体器件的可靠性 / 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 , |
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出版发行:
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出版地： 重庆 出版社： 科学技术文献出版社重庆分社 出版日期： 1974 |
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载体形态:
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165页 26cm |
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附注内容:
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本文集译自“Phys.of failure in electronics”Vol.4(AD637529)和Vol.5(AD655397). |
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主题:
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半导体器件-可靠性试验 文集 |
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主题:
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可靠性试验-半导体器件 文集 |
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中图分类:
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TN306 版次： |
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中图分类:
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TN306-53 版次： 3 |
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团体著者:
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中国科学技术情报研究所重庆分所 编辑 |
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索书号
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TN306/1 |
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标签:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01743nam0 2200349 45 001| |0149174583 005| |1920010823140145 010| |□d￥1.05 091| |□aCN□b151760.5 100| |□a20010823d1974 em y0chiy0121 ea 101|0 |□achi 102| |□aCN□b500000 105| |□ay z 000yy 106| |□ar 200|1 |□a半导体器件的可靠性□Aban dao ti qi jia- | |n de ke kao xing□h专集□f中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 210| |□a重庆□c科学技术文献出版社重庆分社□d1974 215| |□a165页□d26cm 300| |□a本文集译自“Phys.of failure in ele- | |ctronics”Vol.4(AD637529)和Vol.5- | |(AD655397). 510|1 |□aPhys.of failure in electronics□zeng 606| |□a半导体器件-可靠性试验□x文集 606| |□a可靠性试验-半导体器件□x文集 690| |□aTN306 690| |□aTN306-53□v3 711|02|□a中国科学技术情报研究所重庆分所□Azhong guo k- | |e xue ji shu qing bao yan jiu - | |suo chong qing fen suo□4编辑 801| 0|□aCN□b广东省中山图书馆 801| 2|□aCN□bNLC 801| 2|□aCN□bMT 905| |□aMT□fTN306/1□b0159490□t608591- | |□kwe□b0182256□t608590□kwe□b036- | |3104□t608589□kj□b0677520□t608588□kj 908| |□a0182256□b464116□cMT□d0□e2□fT- | |N306/1□gMT□hyt□i□j1.05□k□l1□m- | |□n□o平装□p608590□q2002-06-10□r1.- | |05□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□a0159490□b464116□cMT□d0□e2□fT- | |N306/1□gMT□hyt□i□j1.05□k□l1□m- | |□n□o平装□p608591□q2002-06-10□r1.- | |05□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□aM0182256□b1900008026□cMT□d□e- | |2□fTN306/1□gMT□hyt□i□j1.05□k□- | |l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u- | |□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt 908| |□aM0159490□b1900008026□cMT□d□e- | |2□fTN306/1□gMT□hyt□i□j1.05□k□- | |l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u- | |□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt