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X射线探伤检验技术, 李瑞棠编

ISBN:
价格: ¥1.00
语种:
chi
题名:
X射线探伤检验技术 / 李瑞棠编 ,
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 烃加工出版社 出版日期: 1985
载体形态:
176页 表格 19cm
摘要:
内容包括X射线的基本知识、暗室处理、底片的评级方法和保管等。
主题:
X射线探测
中图分类:
TG115.28 版次: 3
主要著者:
李瑞棠
索书号
TG115.28/25
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