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国外测试新技术：晶体中缺陷的X射线貌相术观察, 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译 |
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ISBN:
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价格： ￥1.50 |
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语种:
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chi |
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题名:
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国外测试新技术 / 中国科学院上海冶金研究所X射线实验室译 , |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术情报研究所 出版日期： 1974 |
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载体形态:
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191页 26cm |
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附注内容:
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国内发行 |
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其它题名:
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晶体中缺陷的X射线貌相术观察 |
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主题:
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半导体技术 测量 外国 |
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中图分类:
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TN304.07 版次： |
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中图分类:
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TN307 版次： 3 |
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团体著者:
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中国科学院上海冶金研究所X射线实验室 译 |
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索书号
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TN304.07/1 |
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标签:
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相关主题:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01744nam0 2200337 145 001| |0149174522 005| |1920010818155513 010| |□d￥1.50 091| |□aCN□b151634.211 100| |□a20010818d2004 em y0chiy0121 ea 101|1 |□achi 102| |□aCN□b310000 105| |□ay z 000yy 106| |□ar 200|1 |□a国外测试新技术□Aguo wai ce shi xin - | |ji shu□e晶体中缺陷的X射线貌相术观察□f中国科学院上- | |海冶金研究所X射线实验室译 210| |□a上海□c上海科学技术情报研究所□d1974 215| |□a191页□d26cm 300| |□a国内发行 517|1 |□a晶体中缺陷的X射线貌相术观察□Ajing ti zhon- | |g que xian deX she xian mao xi- | |ang shu guan cha 606| |□a半导体技术□x测量□y外国 690| |□aTN304.07 690| |□aTN307□v3 711|02|□a中国科学院上海冶金研究所X射线实验室□Azhong gu- | |o ke xue yuan shang hai ye jin- | | yan jiu suo X she xian shi yan shi□4译 801| 0|□aCN□b广东省中山图书馆□c19970918 801| 2|□aCN□bNLC 801| 2|□aCN□bMT 905| |□aMT□fTN304.07/1□b0202878□t635- | |145□kwe□b0202879□t635144□kwe□b- | |0382209□t635142□kj□b0666004□t6- | |35141□kj□b0669403□t635140□kj 908| |□a0202878□b464066□cMT□d0□e2□fT- | |N304.07/1□gMT□hyt□i□j1.5□k□l1- | |□m□n□o平装□p635145□q2002-06-10□r- | |1.5□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□a0202879□b464066□cMT□d0□e2□fT- | |N304.07/1□gMT□hyt□i□j1.5□k□l1- | |□m□n□o平装□p635144□q2002-06-10□r- | |1.5□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□aM0202878□b1900038267□cMT□d□e- | |2□fTN304.07/1□gMT□hyt□i□j1.5□- | |k□l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t- | |□u□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt 908| |□aM0202879□b1900038267□cMT□d□e- | |2□fTN304.07/1□gMT□hyt□i□j1.5□- | |k□l1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t- | |□u□v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt