名称: | |
描述: | |
公开/私有: | 公开 私有 |
国外集成电路测试自动化, 上海市半导体器件科技情报协作网编 |
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ISBN:
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价格: ¥0.60 |
语种:
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chi |
题名:
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国外集成电路测试自动化 / 上海市半导体器件科技情报协作网编 , |
出版发行:
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出版地: 上海 出版社: 科学技术情报研究所 出版日期: 1977 |
载体形态:
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74页 25cm |
附注内容:
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国内发行 |
附注内容:
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半导体器件生产自动化专辑 |
主题:
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集成电路 测试 国外 |
中图分类:
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TN407 版次: |
团体著者:
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上海市半导体器件科技情报协作网 编 |
索书号
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TN407/1 |
标签:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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HEA| |01493nam0 2200301 145 001| |0149174820 005| |1920011215160055 010| |□d¥0.60 091| |□aCN□b151634.363 100| |□a20010627d1997 em y0chiy0121 eb 101|0 |□achi 102| |□aCN□b310000 105| |□ay z 000yy 106| |□ar 200|1 |□a国外集成电路测试自动化□Aguo wai ji chen- | |g dian lu ce shi zi dong hua□f- | |上海市半导体器件科技情报协作网编 210| |□a上海□c科学技术情报研究所□d1977 215| |□a74页□d25cm 300| |□a国内发行 300| |□a半导体器件生产自动化专辑 606|0 |□a集成电路□x测试□x自动化□y国外 690| |□aTN407 711|02|□a上海市半导体器件科技情报协作网□4编□Ashang ha- | |i shi qi ti qi jian ke ji qing- | | bao xie zuo wang 801| 0|□aCN□bMT 905| |□aMT□fTN407/1□b0180459□t712899- | |□kwe□b0180463□t712898□kwe□b066- | |6029□t712896□kj□b0666069□t712897□kj 908| |□a0180459□b464297□cMT□d0□e2□fT- | |N407/1□gMT□hyt□i□j0.6□k□l1□m□- | |n□o平装□p712899□q2002-06-10□r0.6- | |□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□a0180463□b464297□cMT□d0□e2□fT- | |N407/1□gMT□hyt□i□j0.6□k□l1□m□- | |n□o平装□p712898□q2002-06-10□r0.6- | |□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□aM0180459□b1900037075□cMT□d□e- | |2□fTN407/1□gMT□hyt□i□j.6□k□l1- | |□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u□v- | |999_CN01□w2002-06-10□y□zyt 908| |□aM0180463□b1900037075□cMT□d□e- | |2□fTN407/1□gMT□hyt□i□j.6□k□l1- | |□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u□v- | |999_CN01□w2002-06-10□y□zyt