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| 描述: | |
| 公开/私有: | 公开 私有 |
标签:
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可靠性技术：试验与分析, (日) 见弘著 |
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ISBN:
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价格： ￥1.10 |
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语种:
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chi |
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题名:
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可靠性技术 / (日) 见弘著 , 五所译 |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 1983 |
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载体形态:
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322页 19cm |
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其它题名:
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试验与分析 |
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主题:
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电子技术-可靠性理论 |
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主题:
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可靠性理论-电子技术 |
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中图分类:
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TN06 版次： 3 |
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主要著者:
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见弘 著 |
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次要著者:
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五所 译 |
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索书号
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TN06/14 |
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标签:
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相关主题:
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相关资源:
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分享资源:
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限定所在馆:
限定所在馆藏地点:
限定馆藏状态:
HEA| |01843nam0 2200373 45 001| |0149174060 005| |1920010529125245 010| |□d￥1.10 091| |□aCN□b15034.2078 100| |□a20010529d1983 em y1chiy0121 ea 101|1 |□achi□cjpn 102| |□aCN□b110000 105| |□ay z 000yy 106| |□ar 200|10|□a可靠性技术□Ake kao xing ji shu□e试- | |验与分析□f(日) 见弘著□g五所译 210| |□a北京□c国防工业出版社□d1983 215| |□a322页□d19cm 303| |□a责任者缺字=[土盒] 517|1 |□a试验与分析□Ashi yan yu fen xi 606| |□a电子技术-可靠性理论 606| |□a可靠性理论-电子技术 690| |□aTN06□v3 701| 0|□a 见弘□A jian hong□4著 702| 0|□a五所□Awu suo□4译 801| 0|□aCN□b上海图书馆 801| 2|□aCN□bNLC 801| 2|□aCN□bMT 905| |□aMT□fTN06/14□b0221005□t119262- | |4□kwe□b0221012□t1192622□kwe□b0- | |221073□t1192623□kwe□b0303750□t- | |1192621□kj□b0663825□t1192619□k- | |j□b0663949□t1192620□kj 908| |□a0221073□b463694□cMT□d0□e2□fT- | |N06/14□gMT□hyt□i□j1.1□k□l1□m□- | |n□o平装□p1192623□q2002-06-10□r1.- | |1□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□a0221005□b463694□cMT□d0□e2□fT- | |N06/14□gMT□hyt□i□j1.1□k□l1□m□- | |n□o平装□p1192624□q2002-06-10□r1.- | |1□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□a0221012□b463694□cMT□d0□e2□fT- | |N06/14□gMT□hyt□i□j1.1□k□l1□m□- | |n□o平装□p1192622□q2002-06-10□r1.- | |1□t□u□v999_CN01□w2002-06-10□y订购□zyt 908| |□aM0221073□b1900011515□cMT□d□e- | |2□fTN06/14□gMT□hyt□i□j1.1□k□l- | |1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u□- | |v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt 908| |□aM0221005□b1900011515□cMT□d□e- | |2□fTN06/14□gMT□hyt□i□j1.1□k□l- | |1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u□- | |v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt 908| |□aM0221012□b1900011515□cMT□d□e- | |2□fTN06/14□gMT□hyt□i□j1.1□k□l- | |1□m□n□o平装□p□q2002-06-10□r□t□u□- | |v999_CN01□w2002-06-10□y□zyt